更新时间：2020-04-13
x射线光谱分析仪，镀层测厚仪Thick8000是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层光谱分析仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
x射线光谱分析仪，镀层测厚仪Thick8000仪器配置
1硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) X光管(2)半导体探测器
(3)放大电路(4)高精度样品移动平台
(5)高清晰摄像头(6)高压系统
(7)上照、开放式样品腔(8）双激光定位
(9)玻璃屏蔽罩
2软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
x射线光谱分析仪，镀层测厚仪Thick8000参数规格
1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；
2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.*的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258（D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；
性能特点
1.精密的三维移动平台；
2.的样品观测系统；
3.*的图像识别；
4.轻松实现深槽样品的检测；
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；
6.双重保护措施，实现无缝防撞；
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度。
安装要求：
1环境温度要求：15℃-30℃
2环境相对湿度：<70%
3工作电源：交流220±5V
4周围不能有强电磁干扰。
